Bachurski D, Gholamipoorfard R, Bu YJ, Hoelker P, Wessendorf L, Jestrabek H, Schreurs LD, Stahl D, Mokhlesi A, Gödel P, Gaedke F, Ranjbari E, Seyhan S, Resch U, Schmidt LM, Tertel T, Rose F, Pinheiro C, Corona ML, von Lom A, vom Stein AF, Nguyen PH, Reiners KS, Hendrix A, van Niel G, Krüger M, Bozek K, Meder L, Malmberg P, Cramer P, Eichhorst B, Peifer M, Ullrich RT, Schauss A, Pallasch C, Bröckelmann PJ, Jachimowicz RD, Preußer C, Giebel B, von Strandmann EP, Nitz M, Hallek M, Abedpour N
- - (-) - [2025-11-03; online 2025-11-03]
Integrated Microscopy Technologies Gothenburg [Service]
DOI 10.1101/2025.11.01.685872
Crossref 10.1101/2025.11.01.685872